● SEM-掃描電子顯微鏡(HITACHI SU3800)
● EDS-能量散射X射線分析儀

掃描式電子顯微鏡（HITACHI SU3800）搭載能量散射X射線分析儀（EDS），可同時觀察微奈米級表面結構並進行元素成分分析。
EDS 能快速辨識樣品中各元素種類與相對含量，用於確認鍍層成分、異物來源及材料組成。
SEM 具備高解析度影像能力，可清楚呈現表面裂縫、顆粒、蝕刻形貌與微結構。