HITACHI XRF-FT150 X射線螢光鍍層厚度測量儀

商品名稱:

規格介紹:

【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】

詳細介紹:

【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】

可非破壞性量測材料表面的元素組成與鍍層厚度。
藉由分析X射線螢光信號，可快速判定金屬元素含量與多層鍍層堆疊結構。
量測速度快、樣品準備簡單，適用於各種金屬鍍層與電子材料檢測。

● 測定元素範圍：
○ 鋁(Al13)~鈾(U92)

● 定量分析功能：
○ 電鍍膜厚測定
○ 薄膜分析檢量線法(可針對單層、雙層或多元合金單層膜厚)
○ 薄膜分析FP法(最高一次分析五層)

● 定性分析功能：
　○ 元素分析
　○ 能譜比對
● 多毛細管聚焦式X射線管(Polycapillary)與Vortex SDD(Hitachi專利，多陰極矽半導體檢測器)
● 微米等級高解析度影像觀察系統。
● X光(能量分散型)膜厚機，利用特徵波長量測金屬膜厚或塊體成份組成

● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問

可依照各項目，提供對應的服務內容

👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。