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KEYENCE LM-X

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商品名稱:

KEYENCE LM-X

規格介紹:

高解析度量測顯微系統,可快速取得樣品的外觀影像與精準尺寸。
具備自動對焦與多尺寸量測功能,可穩定量測微小結構、孔徑、寬度與高度差。
非接觸式量測方式,可避免刮傷精密樣品並確保量測再現性。

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    ● 測定元素範圍 ○ 鋁(Al13)~鈾(U92)● 定量分析功能: ○ 電鍍膜厚測定 ○ 薄膜分析檢量線法(可針對單層、雙層或多元合金單層膜厚) ○ 薄膜分析FP法(最高一次分析五層)● 定性分析功能: ○ 元素分析 ○ 能譜比對● 多毛細管聚焦式X射線管(Polycapillary)與Vortex SDD(Hitachi專利,多陰極矽半導體檢測器) ● 微米等級高解析度影像觀察系統。● X光(能量分散型)膜厚機,利用特徵波長量測金屬膜厚或塊體成份組成
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