EDS-能量散射X射線分析儀
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規格介紹:
EDS-能量散射X射線分析儀
規格介紹:EDS-能量散射X射線分析儀
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】
● SEM-掃描電子顯微鏡(HITACHI SU3800)
● EDS-能量散射X射線分析儀
詳細介紹:
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】
掃描式電子顯微鏡（HITACHI SU3800）搭載能量散射X射線分析儀（EDS），
可同時觀察微奈米級表面結構並進行元素成分分析。
EDS 能快速辨識樣品中各元素種類與相對含量，用於確認鍍層成分、異物來源及材料組成。
SEM 具備高解析度影像能力，可清楚呈現表面裂縫、顆粒、蝕刻形貌與微結構。
可同時觀察微奈米級表面結構並進行元素成分分析。
EDS 能快速辨識樣品中各元素種類與相對含量，用於確認鍍層成分、異物來源及材料組成。
SEM 具備高解析度影像能力，可清楚呈現表面裂縫、顆粒、蝕刻形貌與微結構。
● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問
可依照各項目，提供對應的服務內容
👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
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SEM-掃描電子顯微鏡(HITACHI SU3800)
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】 掃描式電子顯微鏡（HITACHI SU3800）搭載能量散射X射線分析儀（EDS），可同時觀察微奈米級表面結構並進行元素成分分析。EDS 能快速辨識樣品中各元素種類與相對含量，用於確認鍍層成分、異物來源及材料組成。SEM 具備高解析度影像能力，可清楚呈現表面裂縫、顆粒、蝕刻形貌與微結構。 ● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問 可依照各項目，提供對應的服務內容 👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
ICP-OES感應耦合電漿光學發射光譜儀
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】 以高靈敏度分析液體樣品中的多元素濃度。利用高溫電漿激發原子並讀取光譜訊號，可同時量測多種金屬與非金屬元素。具備寬動態範圍與低偵測極限，適合痕量至高濃度的成分分析。 ● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問 可依照各項目，提供對應的服務內容 👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
HITACHI XRF-FT150 X射線螢光鍍層厚度測量儀
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】 可非破壞性量測材料表面的元素組成與鍍層厚度。藉由分析X射線螢光信號，可快速判定金屬元素含量與多層鍍層堆疊結構。量測速度快、樣品準備簡單，適用於各種金屬鍍層與電子材料檢測。 ● 測定元素範圍：○ 鋁(Al13)~鈾(U92) ● 定量分析功能：○ 電鍍膜厚測定○ 薄膜分析檢量線法(可針對單層、雙層或多元合金單層膜厚)○ 薄膜分析FP法(最高一次分析五層) ● 定性分析功能： ○ 元素分析 ○ 能譜比對● 多毛細管聚焦式X射線管(Polycapillary)與Vortex SDD(Hitachi專利，多陰極矽半導體檢測器) ● 微米等級高解析度影像觀察系統。● X光(能量分散型)膜厚機，利用特徵波長量測金屬膜厚或塊體成份組成 ● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問 可依照各項目，提供對應的服務內容 👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
KEYENCE VK-X3000 雷射共軛焦 兼 白光干涉顯微鏡
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】 可非破壞性量測材料表面的元素組成與鍍層厚度。藉由分析X射線螢光信號，可快速判定金屬元素含量與多層鍍層堆疊結構。量測速度快、樣品準備簡單，適用於各種金屬鍍層與電子材料檢測。 ● 具高倍數位顯微鏡檢視、影像存檔，線寬及面積量測，3D掃描等功能● 最高解析度：1um（線寬、線距、深度） 高解析度的非接觸式 3D 量測設備，可精準取得樣品表面的高度、粗糙度與形貌資訊。搭載多波長雷射，無論高反光金屬或透明材質皆能穩定量測。具備奈米級 Z 軸解析度，適合分析刮痕、凹坑、鍍層不均等微小缺陷。 ● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問 可依照各項目，提供對應的服務內容 👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
KEYENCE LM-1100 高精度影像尺寸測量儀
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】 ● 自動化的目標物對位及對焦○ 量測精度：±0.1 μm ● 可同時量測 600 個位置 ● 最多可一次量測 1000 個相同目標物 ● 超高精細2000萬畫素CMOS感測器 ○ 可拍出更大視野的高解析度影像 ● 高解析度、高倍率鏡頭 ● 大型載物台：最大量測尺寸為125 × 225 mm，高度為 75 mm。 ● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問 可依照各項目，提供對應的服務內容 👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
Hi cal300 電子高度儀
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】 ● 電子高度儀：測量範圍300mm ● 解析度0.001mm(Measuring force 0.2 - 0.3 N) 量測探針 ● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問 可依照各項目，提供對應的服務內容 👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
HITACHI U-3900H分光光度計
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】 可透過紫外光至可見光範圍的吸收光譜，精準量測液體樣品之濃度與成分變化。具備高光學解析度與低雜訊設計，可提供穩定且再現性佳的定量分析結果。 ● 用途：偵測材料在波長200nm~1100nm之間的吸收光譜或穿透光譜。 ● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問 可依照各項目，提供對應的服務內容 👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
Surfcorder et3000（Alpha-step）
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】 屬於2D表面輪廓量測 藉探針掃描試片表面之高低差異，將探針上下震動的機械訊號，經轉換與運算放大而繪製剖面圖，進而得知膜厚變化與表面粗糙度。 ● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問 可依照各項目，提供對應的服務內容 👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
