KEYENCE VK-X3000 雷射共軛焦 兼 白光干涉顯微鏡
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規格介紹:
KEYENCE VK-X3000 雷射共軛焦 兼 白光干涉顯微鏡
規格介紹:KEYENCE VK-X3000 雷射共軛焦 兼 白光干涉顯微鏡
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】
詳細介紹:
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】
可非破壞性量測材料表面的元素組成與鍍層厚度。
藉由分析X射線螢光信號，可快速判定金屬元素含量與多層鍍層堆疊結構。
量測速度快、樣品準備簡單，適用於各種金屬鍍層與電子材料檢測。
藉由分析X射線螢光信號，可快速判定金屬元素含量與多層鍍層堆疊結構。
量測速度快、樣品準備簡單，適用於各種金屬鍍層與電子材料檢測。
● 具高倍數位顯微鏡檢視、影像存檔，線寬及面積量測，3D掃描等功能
● 最高解析度：1um（線寬、線距、深度）
● 最高解析度：1um（線寬、線距、深度）
高解析度的非接觸式 3D 量測設備，可精準取得樣品表面的高度、粗糙度與形貌資訊。
搭載多波長雷射，無論高反光金屬或透明材質皆能穩定量測。
具備奈米級 Z 軸解析度，適合分析刮痕、凹坑、鍍層不均等微小缺陷。
搭載多波長雷射，無論高反光金屬或透明材質皆能穩定量測。
具備奈米級 Z 軸解析度，適合分析刮痕、凹坑、鍍層不均等微小缺陷。
● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問
可依照各項目，提供對應的服務內容
👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
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SEM-掃描電子顯微鏡(HITACHI SU3800)
【無販售機台 · 僅提供收費檢測服務】 掃描式電子顯微鏡（HITACHI SU3800）搭載能量散射X射線分析儀（EDS），可同時觀察微奈米級表面結構並進行元素成分分析。EDS 能快速辨識樣品中各元素種類與相對含量，用於確認鍍層成分、異物來源及材料組成。SEM 具備高解析度影像能力，可清楚呈現表面裂縫、顆粒、蝕刻形貌與微結構。 ● 多項收費檢測服務，歡迎來電／來信詢問 可依照各項目，提供對應的服務內容 👉 所有檢測均由本公司專業團隊執行，並提供檢測報告。
