剝離製程 · Lift-Off Process
商品名稱:
規格介紹:
剝離製程 · Lift-Off Process
規格介紹:剝離製程 · Lift-Off Process
Lift Off製程在高精度微製程中,是微細圖形製作中常用之金屬圖案轉移技術,透過光阻圖形定義後進行薄膜沉積,最後利用溶劑將光阻剝離,使金屬僅保留於指定區域,是實現細線寬與高品質金屬圖案的重要關鍵。
相較於傳統蝕刻製程,Lift-Off能避免化學蝕刻造成的材料損傷與尺寸偏移,特別適用於貴金屬電極、微感測結構與高附著力需求之應用。
透過製程參數最佳化與潔淨環境控制,確保圖形邊緣銳利、殘膠低、良率穩定。
詳細介紹:

我司提供完整 Lift-Off 製程整合,包含:
• 光阻塗佈與圖形定義
• Ti / Pt / Au 等多層金屬濺鍍
• 製程條件優化與剝離控制
本製程特別適用於貴金屬(Au / Pt / Ti 等)或多層薄膜圖案製作,能有效避免濕式蝕刻對材料造成之側蝕與損傷,提升圖形精度與邊界完整性。
我司可整合濺鍍、黃光曝光與剝離條件優化,依不同材料特性與膜厚需求,調整光阻結構與製程參數,確保圖形解析度與良率穩定。

適用於:
● 精密電極
● 微感測元件
● MEMS
● RDL
● 貴金屬圖案製作
● 多層金屬結構
可搭配我司濺鍍與黃光製程,提供一站式整合解決方案。







